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X射线衍射仪技能(XRD)

发布时间:2023-10-25 来源:x射线衍射仪

  X射线衍射仪技能(X-ray diffraction,XRD)。经过对资料来X射线衍射,剖析其衍射图谱,取得资料的成分、资料内部原子或分子的结构或形状等信息的研讨手法。X射线衍射剖析法是研讨物质的物相和晶体结构的首要办法。当某物质(晶体或非晶体)进行衍射剖析时,该物质被X射线照耀发生不同程度的衍射现象,物质组成、晶型、分子内成键办法、分子的构型、构象等决议该物质发生特有的衍射图谱。X射线衍射办法具有不损害样品、无污染、方便、丈量精度高、能得到有关晶体完整性的许多信息等长处。因而,X射线衍射剖析法作为资料结构和成分剖析的一种现代科学办法,已逐渐在各学科研讨和出产中广泛运用。

  (1)当资料由多种结晶成分组成,需区别各成分所占份额,可运用XRD物相判定功用,剖析各结晶相的份额。

  (2)许多资料的功能由结晶程度决议,可运用XRD结晶度剖析,确认资料的结晶程度。

  (3)新资料开发需求充沛了解资料的晶格参数,运用XRD可方便测验出点阵参数,为新资料开发运用供给功能验证目标。

  (4)产品在运用的过程中呈现开裂、变形等失效现象,或许触及微观应力方面影响,运用XRD能够方便测定微观应力。

  (5)纳米资料因为颗粒细微,极易构成团粒,选用一般的粒度剖析仪往往会给出过错的数据。选用X射线衍射线线宽法(谢乐法)能够测定纳米粒子的均匀粒径。

  (1)固体样品外表>10×10mm,厚度在5m以上,外表有必要平坦,能够用几块张贴一同。

  (2)关于片状、圆拄状样品会存在严峻的择优取向,衍射强度反常,需供给测验方向。

  (3)关于丈量金属样品的微观应力(晶格畸变),丈量剩余奥氏体,要求制备成金相样品,并进行一般抛光或电解抛光,消除外表应变层。

  样品信息:送检样品为白色粉末状的珍珠粉,送检方要求进行物相判定。本实验运用设备为日本理学D/max2500的X射线衍射仪。

  实验参数:管压40KV,管流200A,Cu靶,衍射宽度DS=SS=1,RS=0.3mm,扫描速度2.000 (dmin-1),扫描规模10~80。